机译:使用SF 6分解成分分析诊断游离金属颗粒缺陷引发的局部放电严重程度
机译:由针板缺陷发起的SF6分解组分与负直流局部放电强度的相关分析
机译:SF 6 sub>分解组分与自由金属颗粒引发的局部放电电荷量之间的相关性分析
机译:在正DC局部放电下通过不同的金属线型无导电颗粒研究含含硫的分解组分的SF 6 sup>
机译:一种独特的创新方法,用于表征高频微放电或局部放电,以及它们与时域中表现出高电场应力的物理缺陷的关系。
机译:K型分子筛沉积多壁碳纳米管在部分放电条件下检测SF6分解气体的灵敏度分析
机译:两种典型缺陷引起的负直流局部放电sF6分解与气压的相关特性比较
机译:用局部放电信号分析检测电缆中的初始缺陷